Tekrarlılık Ölçüm Analizi ve Aşırı Öğrenme Makinesi Tabanlı Epileptik EEG Sinyallerinin Sınıflandırılması

İmak A., ALÇİN Ö. F., İNCE M. C.

International Engineering and Technology Symposium (IETS18), Batman, Türkiye, 3 - 05 Mayıs 2018

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Batman
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • İnönü Üniversitesi Adresli: Evet