İmak, A. Et Al. 2018. Tekrarlılık Ölçüm Analizi ve Aşırı Öğrenme Makinesi Tabanlı Epileptik EEG Sinyallerinin Sınıflandırılması. International Engineering and Technology Symposium (IETS18) , (Batman, Turkey).

İmak, A., ALÇİN, Ö. F., & İNCE, M. C., (2018). Tekrarlılık Ölçüm Analizi ve Aşırı Öğrenme Makinesi Tabanlı Epileptik EEG Sinyallerinin Sınıflandırılması . International Engineering and Technology Symposium (IETS18), Batman, Turkey

İmak, Andaç, ÖMER FARUK ALÇİN, And MELİH CEVDET İNCE. "Tekrarlılık Ölçüm Analizi ve Aşırı Öğrenme Makinesi Tabanlı Epileptik EEG Sinyallerinin Sınıflandırılması," International Engineering and Technology Symposium (IETS18), Batman, Turkey, 2018

İmak, Andaç Et Al. "Tekrarlılık Ölçüm Analizi ve Aşırı Öğrenme Makinesi Tabanlı Epileptik EEG Sinyallerinin Sınıflandırılması." International Engineering and Technology Symposium (IETS18) , Batman, Turkey, 2018

İmak, A. ALÇİN, Ö. F. And İNCE, M. C. (2018) . "Tekrarlılık Ölçüm Analizi ve Aşırı Öğrenme Makinesi Tabanlı Epileptik EEG Sinyallerinin Sınıflandırılması." International Engineering and Technology Symposium (IETS18) , Batman, Turkey.

@conferencepaper{conferencepaper, author={Andaç İmak Et Al. }, title={Tekrarlılık Ölçüm Analizi ve Aşırı Öğrenme Makinesi Tabanlı Epileptik EEG Sinyallerinin Sınıflandırılması}, congress name={International Engineering and Technology Symposium (IETS18)}, city={Batman}, country={Turkey}, year={2018}}