Fast Identification of Bacteria and Yeast Using Surface Enhanced Raman Scattering

ÇULHA M., KAHRAMAN M., ÇAM D., Sayın İ., Keseroğlu K.

13th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, 18 - 23 Ekim 2009

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • İnönü Üniversitesi Adresli: Evet